31 Infos zu Jan-erik Schmutz
Mehr erfahren über Jan-erik Schmutz
Infos zu
- Hendrik Hölscher
- Marcus
- Scanning Probe Microscopy
- Daniel Ebeling
- Functional Materials
- Microscopy of Functional
1 Aktuelle Nachrichten
1 Hobbys & Interessen
Phoenix Contact Gmbh x26 Co Kg patent inventors (2015)Hans-peter Hudetz · Hartmut Henkel · Heinrich Heise · Heinz Reibke · Heinz-w. Meier · Henning Heutger · Holger Steinhage · Hubertus Lohre · Jan-erik Schmutz.
9 Bücher zum Namen
Bharat Bhushan (eds.)VDOC.PUBHendrik Hölscher, Daniel Ebeling, Jan-Erik Schmutz, Marcus M. Schäefer (auth.), Bharat Bhushan (eds.) 10,630; 4,965. Preview Document ...
Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Ellibsellibs.comHendrik Hölscher, Daniel Ebeling, Jan-Erik Schmutz, Marcus M. Schäefer, Boris Anczykowski. 2. Photonic Force Microscopy: From Femtonewton Force Sensing to ...
Scanning Probe Microscopy of Functional Materials | Ebook ...Hendrik Hölscher, Jan-Erik Schmutz, Udo D. Schwarz. 4. Measuring Mechanical Properties on the Nanoscale with Contact Resonance Force Microscopy ...
Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnologygoogle.be1 Dynamic Force Microscopy and Spectroscopy Using the Frequency-Modulation Technique in Air and Liquids Hendrik Hölscher, Daniel Ebeling, Jan-Erik Schmutz, ...
3 Dokumente
Single-Nanoparticle-Terminated Tips for Scanning Probe ...American Chemical Societyvon IU Vakarelski · · Zitiert von: 100 — 2008,,, https://doi.org B ; Jan-Erik Schmutz, Marcus M. Schäfer, Hendrik Hölscher.
H:\Datalogger\DataloggerMain.asmMikrocontroller.netVersion 1.2 by Jan-Erik Schmutz. ;. ;. ;. ; letzte Änderung ;
(O) Overview of Invited Talks and Sessions - The NOMAD ...th.fhi-berlin.mpg.de › DPG-FV-O-2008_program•Jan-Erik Schmutz, Marcus M. Schäfer, and Hendrik Hölscher. — CeNTech, Universität MünsterMünster,. Germany. In some areas of ...
1 Wissenschaftliche Publikationen
Doctoral ThesesInstitute of Physic: Fuchs Group
3 Allgemeine Veröffentlichungen
O - DPG-VerhandlungenYumpu— •Jens Falter, Jan-Erik Schmutz, Daniel. Ebeling, Marcus Schäfer und Hendrik Hölscher — Center for.
Dynamic Force Microscopy and Spectroscopy Using the ...Springervon H Hölscher · · Zitiert von: 1 — Daniel Ebeling & Jan-Erik Schmutz. nanoAnalytics GmbH, Münster, Germany. Marcus M. Schäefer.
Scanning Probe Microscopy of Functional Materials | SpringerLinkDynamic Force Microscopy and Spectroscopy in Ambient Conditions: Theory and Applications. Hendrik Hölscher, Jan-Erik Schmutz, Udo D. Schwarz. Pages
14 Webfunde aus dem Netz
DE B4 - Funkenstrecke Google PatentsOther languages: German: English; Inventor: Rainer Durth: Jan-Erik Schmutz: Viktor Okel; Current Assignee. The listed assignees may be inaccurate.
US B2 - Multi-contact element for a varistor Google...Inventors, Jan-Erik Schmutz, Friedrich-Eckhard Brand. Original Assignee, Phoenix Contact Gmbh & Co. Kg. Export Citation, BiBTeX, EndNote, ...
WO A1 - Colloid-sensor for afm Google PatentsDownload PDF Find Prior Art Similar. Other languages: English: French; Inventor: Marcus Matthias SCHÄFER: Jan-Erik Schmutz: Hendrik Hölscher ...
Jan-Erik SchmutzSearch results for: Jan-Erik Schmutz ... Hendrik Hölscher, Jan-Erik Schmutz, Udo Schwarz · Scanning Probe Microscopy of Functional Materials > Dynamic ...
(eltako|1s9|220v) Suche ElektroforumIch würde mich sehr über Hilfe freuen Jan-Erik Schmutz. von madman_phy-tech am Dienstag 1. August 2006, 11:27 Forum: Fragen zur Elektronik Thema ...
Colloid probes with increased tip height for higher ...National Institutes of Health (.gov)von JE Schmutz · · Zitiert von: 9 — Authors. Jan-Erik Schmutz , Marcus M Schäfer, Hendrik Hölscher. Affiliation. 1 Center for Nanotechnology (CeNTech)Münster, ...
2 nd International Workshop on Advanced Atomic Force ...docplayer.net › nd-in...... Dynamic Force Microscopy Tobias Meier 1, Özhan Ünverdi 1, Jan-Erik Schmutz 2 and Hendrik Hölscher 1 1 Karlsruhe Institute of Technology (KIT), Germany, ...
Hochspannungsverstärker Elektroforum- Hochspannungsverstärker im Elektroforum - Fragen zu Elektronik und Elektro allgemein.Fragen zu Bauteilen wie z.B. Tansistoren, Dioden, Kondensatoren usw
Tribology Research References Quarterly Update- vol. 4, 2010atelim.com— Jan-Erik Schmutz, Harald Fuchs, Hendrik Holscher, Measuring wear by combining friction force and dynamic force microscopy.
Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft17:30, O 59.5, Wear measurement by friction force and dynamic force microscopy — Özhan Ünverdi, •Tobias Meier, Jan-Erik Schmutz, and ...
Scanning Probe Microscopy of Functional Materials - 微米纳米 - 小木虫 - 学术...ScanningProbeMicroscopyofFunctionalMaterials----NanoscaleImagingandSpectroscopy_Kalinin,Sergei,Gruverman,Alexei_2010PartISpectroscopicSPMattheResolutionLimits1E...
Scanning Probe Microscopy of Functional Materials ...epdf.pub › scanning-probe-micros...Hendrik Hölscher, Jan-Erik Schmutz, and Udo D. Schwarz Measuring Mechanical Properties on the Nanoscale with Contact Resonance Force Microscopy ...
Schmutz - Patent applicationswww.patentsencyclopedia.com › sc...Jan-Erik Schmutz, Detmold DE. Patent application number, Description, Published , SURGE ARRESTER - A surge arrester for use in the power ...
Bedeutung zum Vornamen Jan
Männlicher Vorname (Deutsch, Skandinavisch, Holländisch, Polnisch, Tschechisch): Jan; Jahwe ist gnädig, Jahwe ist gütig; Hebräisch (Neues Testament); jahwe = (Name Gottes); chanan = begünstigen, gnädig sein; Name des Apostels und Evangelisten Johannes; auch bekannt durch Johannes den Täufer; am Ende des Mittelalters der häufigste Taufname in Deutschland; bisher trugen 23 Päpste den Namen Johannes
Bedeutung zum Vornamen Erik
Männlicher Vorname (Skandinavisch): Erik; der allein Herrschende; Altnordisch (Zweigliedriger Name); aen = allein; rikr = der Herrscher; bekanntgeworden als Namen schwedischer Herrscher; 'Erik' ist in Schweden ein sehr häufiger Name
Verwandte Personensuchen
Personensuche zu Jan-erik Schmutz & mehr
Die Personensuchmaschine Namenfinden.de ist die neue Personensuche für Deutschland, die Profile, Kontaktdaten, Bilder, Dokumente und Webseiten zu Jan-erik Schmutz und vielen weiteren Namen aus öffentlich zugänglichen Quellen im Internet anzeigt.